Path: EDNTaiwan電子技術設計 >> 產品中心 >> 測試與量測 >> 愛德萬發表全新高速記憶體測試系統
測試與量測 Share print

愛德萬發表全新高速記憶體測試系統

2016年01月05日

Share this page with your friends

愛德萬測試(Advantest)全新發表專為高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案T5851系統,將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。


T5851測試系統分別提供了量產機型與工程開發機型,讓客戶可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途,也能在搭載自動化元件分類機(如愛德萬測試的M6242分類機)的架構下,應用於量產環境。T5851是一套完全整合式的系統層級測試解決方案,不僅提供多種協定支援,且具備tester-per-DUT架構與專有的硬體加速器,使測試時間領先業界。


T5851經實證的測試架構,與旗下固態硬碟測試解決方案MPT3000產品系列一致,並採用與T5800系列產品相同的多功能平台與FutureSuite?軟體,可讓客戶降低降低投資成本與建置風險。此外,其系統設定及效能可隨任何待測物調整而達到最佳表現,同時提供模組化升級能力,以提升客戶未來的投資報酬。


此系統可隨需延展的大電流可編程電源(PPS)支援,能滿足所有不同電流與下一代元件的需求,加上其穩健模組設計與水冷功能,為T5851創造出絕佳可靠性。


愛德萬測試執行董事山田弘益表示:「低功耗行動電子產品的趨勢,帶動了高階儲存解決方案的需求,由於這些儲存產品採用高速省電的序列介面與高效能儲存協定,記憶體IC製造商需要與過去不同等級的測試系統,不但要專為這類元件的系統層級測試製程所設計,還須兼具一般記憶體測試系統所擁有的可靠性、低成本、支援大量測試的能力,而這些要求,T5851全都能滿足。」


量產型系統預計於2016年第一季開始出貨。





想要免費接收更多的技術設計資訊嗎?

馬上訂閱《電子技術設計》郵件速遞,透過郵箱輕鬆接收最新的設計理念和產品新聞。

為確保您的資訊安全,請輸入右方顯示的代碼.

啟動您的訂閱申請

我們已給您的註冊郵箱發送了確認信,請點擊信中的連結啟動您的訂閱申請。

這將有助於我們很好地保護您的個人隱私同時確保您能成功接收郵件。


添加新評論
遊客 (您目前以遊客身份發表,請 登入 | 註冊)
*驗證碼:

新聞 | 產品 | 設計實例