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測試與量測 Share print

愛德萬展示全新IC測試解決方案

2015年09月23日

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愛德萬測試(Advantest)宣佈將於10月6-8日美國加州安納罕所舉辦的國際測試會議 (International Test Conference,ITC)上展示CloudTesting與EVA100等最新測試解決方案。除在現場展示實機外,也將展示線上測試解決方案。


現場展示內容包括可隨需取用的CloudTesting服務,以及應用於類比訊號、混合訊號及感測IC測試的EVA100測試系統。愛德萬CloudTesting雲端測試服務是透過提供多個測試方法(Testing IP)的方式,讓使用者可隨時從愛德萬測試網站上選用。


對半導體初期的驗證測試來說,這種隨需取用的線上服務成本極低,無須資本支出,而且使用者在短短幾小時內就能完成測試環境設定,收到待測物即可進行測試。使用愛德萬測試CloudTesting雲端測試服務,客戶可以免費的租賃測試機台並且不需負擔維修測試機台的費用,省去保養檢修的麻煩,也不會產生其他非預期的支出。


EVA100測試機台採模組化架構,內建高電壓、高精準度類比參數量測儀,支援多種元件量測,包括多種類比與混合訊號元件量測。EVA100 GUI介面相當直觀,工程師無須具備進階的程式撰寫能力也能快速開發出測試程式,迅速得到關鍵設計參數的量測結果,進而有助於加速晶片上市時程。





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