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淺談如何通過USB 3.0符合性測試

2014年01月02日  | Tom Rossi 與 Fred Rastgar

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發射機測試

這一測試的設定及發射機測試配置包括示波器、SMA連接器測試夾具、USB-IF SigTest以及被測試設備,如圖4所示。


圖4 以Teledyne LeCroy測試儀器對發射機進行符合性測試時的配置
圖4 以Teledyne LeCroy測試儀器對發射機進行符合性測試時的配置。


USB-IF要求發射機進行發送眼、LFPS計時和發送擴頻時鐘屬性的測試。


例如,TD.1.3測試驗證發射機是否滿足眼寬、確定性抖動和隨意抖動要求。TD.1.3的測試流程如下:


1. 給被測試設備通電,使其發送一系列CP0符合性圖形從而進入符合性模式。接下來,這一信號會被高速示波器捕捉到,而這一資料主要用於衡量資料眼是否滿足USB 3.0發射機的規格要求。


2. 然後,一個PING.LFPS突發(PING.LFPS burst)被發送至DUT的RX埠,以使發射機從符合性圖形過渡至CP1。發送的信號同樣被捕捉到,並用於檢測發射機隨機抖動的符合性。


3. 根據CP1資料計算出隨機抖動,然後使用CP0資料和隨機抖動資料計算出總抖動。圖5是USB 3.0發射機的眼截圖(使用Teledyne LeCroy SDA 8 Zi-A示波器所進行的測試)。


圖5 USB 3.0發射機的眼測試截圖
圖5 USB 3.0發射機的眼測試截圖。


主要測試儀器商Agilent、Teledyne LeCroy和Tektronix的實體層發射機測試工具均有USB-IF的認可。而這些儀器供應商都可以提供測試工具組合,其中包括取樣示波器和分析軟體。表2列出了USB 3.0發射機測試的可用儀器。這些工具可在USB-IF插拔測試專題的Gold Suite中找到。


表2 發射機測試儀器
表2 發射機測試儀器。


(未完,請參閱下頁更多內文及附圖)


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