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愛德萬測試推出T2000 8Gsps波形產生器 / 8GHz 數位器模組

2013年07月02日

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半導體測試設備領導者愛德萬測試推出全新T2000 8GWGD測試設備,提供結合每秒採樣速率達8千兆 (Gsps) 的波形產生器和8 GHz數位器之模組,可應用於HDD硬碟等巨量儲存裝置中的系統單晶片 (SoC) 測試。

愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「在SoC測試領域,愛德萬測試一直是業界領導者,現今全球所生產的SoC中有半數以上都是採用我們的設備進行測試。如今面對一日千里的雲端運算市場,客戶可透過這套全新測試機台駕馭雲端運算數十億顆硬碟、全球無可計數的伺服器陣列。」

T2000測試機台提供8GWGD (8Gsps 波形產生器 / 8GHz數位器模組) 與8GDM (8Gbps 數位模組),可處理儲存巨量資料的SoC內部高速SerDes實體層 (PHY) 介面與複雜高速的類比波形挑戰。

這套新模組可透過任意波形產生器 (AWG) 產生PRML (Partial Response Maximum Likelihood,最大回應可能可能性) 波形等複雜訊號,及多種頻率的多頻波形,測試高速類比轉數位轉換器和類比前端設備 (包括前置放大器)。其獨特之處在於閘輸出可與AWG同步化,實現高精準度計時。

此套新模組的訊號擷取數位器可提升系統產能、執行高頻寬類比量測,同時也為眼圖、上升/下降時間、時間傳播延遲量測、週期抖動 (Cycle-to-Cycle Jitter) 和累積性抖動(Long-Term Jitter) 提供測試解決方案。透過這些功能,客戶將能測試高速數位轉類比轉換器和前置放大器,及高速數位介面和鎖相迴路 (PLL) 設備。




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