Path: EDNTaiwan電子技術設計 >> 產品中心 >> 測試與量測 >> 愛德萬測試2013年VOICE會議將探討系統單晶片與記憶體元件及分類器測試技術
測試與量測 Share print

愛德萬測試2013年VOICE會議將探討系統單晶片與記憶體元件及分類器測試技術

2012年12月11日

Share this page with your friends

愛德萬測試所籌辦的國際性使用者社群會議暨合作夥伴研討會VOICE,明年2013年度會議將以系統單晶片 (SOC) 與記憶體元件測試機台和分類機的創新測試解決方案為主題,除了規劃技術簡報、新產品實作展示區外,同時也將就T2000、V93000和各項記憶體測試機台與設備解決方案與使用者進行小組討論,讓所有與會者彼此廣泛交流並分享經驗。不同於以往的是,本屆會議還將探討愛德萬測試的分類機解決方案。

第七屆年度VOICE會議將在2013年4月23日-25日於加州聖荷西的雙樹飯店 (DoubleTree Hotel) 舉辦。本次會議活動以愛德萬測試為因應未來成長所研發的可擴充性系統單晶片與記憶體測試解決方案為主軸分成兩部分,頭兩天將進行技術簡報、一對一會議及供應商博覽會,後三天則提供實機操作研習。

愛德萬測試首席顧問暨VOICE會議指導委員會主席Don Blair表示:「第一屆的VOICE會議完整探討了愛德萬測試系統單晶片與記憶體解決方案,並且獲得一致肯定,相信2013年VOICE會議在延續過去的成功經驗之下,將會吸引更多新使用者參與,提出更多元解決方案共同討論。這次會議內容還將涵蓋分類機,探討更多愛德萬測試解決方案,讓與會者有更多機會瞭解相關技術發展。」

Advantest America, Inc總裁暨執行長Keith Lee指出:「VOICE是我們持續為客戶提供高品質服務的重要指標性活動,我們不斷努力將 VOICE會議做精、做大,希望能夠打造出一個不同於業界,並為與會者創造真正價值的會議。以2013年VOICE會議為例,我們將舉辦協作論壇,讓與會者相互交換意見與觀點,瞭解我們系統單晶片與記憶體測試機台的最新測試技術及最佳實務。」

每一屆VOICE會議都吸引了許多元件整合製造廠 (IDM)、晶圓代工廠、無晶圓IC設計公司、委外組裝測試/封裝代工 (OSAT) 共襄盛舉,2013年度會議規模仍將持續擴大,可望有更多測試專業人士到場參與。

2013年VOICE技術論壇將分成五場研討會,主題涵蓋:

• 特定元件相關:包括MPU、MCU、通訊、汽車元件、CMOS影像感測元件、PMIC等各項最新測試技術。

• 測試工程效率:提供迅速開發測試程式的訣竅。

• 測試技術與方法:示範最新技術和解決方案。

• 量產測試:發表具成本效益及產能最佳化的整套測試設備解決方案,包括測試機台與分類機。

• 記憶體測試:探討最具成本效益與效率的快閃記憶體和DRAM記憶體測試解決方案。




想要免費接收更多的技術設計資訊嗎?

馬上訂閱《電子技術設計》郵件速遞,透過郵箱輕鬆接收最新的設計理念和產品新聞。

為確保您的資訊安全,請輸入右方顯示的代碼.

啟動您的訂閱申請

我們已給您的註冊郵箱發送了確認信,請點擊信中的連結啟動您的訂閱申請。

這將有助於我們很好地保護您的個人隱私同時確保您能成功接收郵件。


添加新評論
遊客 (您目前以遊客身份發表,請 登入 | 註冊)
*驗證碼:

新聞 | 產品 | 設計實例