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愛德萬測試推出新款影像擷取模組

2012年11月30日

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現今市場上附相機功能的消費性電子產品比比皆是,從智慧型手機、平板電腦,到數位攝影機、汽車夜視系統等,可謂方興未艾,這些產品所產生的影像圖元尺寸和解析度更是不斷向上攀升,而且相機的核心 - CMOS影像感測元件也因為加入AD/DA等功能與其他SoC電路設計,變得更加複雜。種種因素促使測試設備不但要能測試日益複雜的電路設計,還必須提高影像處理速度和資料傳輸率,才能維持高測試產能,降低測試成本。

愛德萬測試3GICAP模組可與T2000測試平臺完全相容,提供業界速度最快的影像擷取能力,在內建時脈協定下傳輸率高達3Gbps,在來源同步化協定下傳輸率達1.5 Gbps,因此能以極具成本效益的做法,並測64 D-PHY與M-PHY介面晶片,滿足影像感測元件市場日益增長的需求。

大規模平行同測

一部T2000 ISS平臺可容納16個3GICAP模組,每個平臺可並測多達64個裝置,這項彈性讓測試人員得以同時測試多個裝置。

高速效能

T2000 ISS高達3Gbps的影像擷取率,奠基於領先業界的內建時脈協定 (如MIPI M-PHY) 資料傳輸率。它的系統架構建置了兩個高達512百萬圖元的記憶庫,可同時對影像處理引擎進行資料擷取與資料傳輸動作,縮短測試時間。

最佳效能與成本效益

T2000 ISS平臺採用模組化架構,並具備最佳測試配置,為行動裝置、DSC、DSLR、CAM到工業裝置等,提供低成本的CMOS影像感測元件測試。此外,此平臺還提供整合式單接腳參數量測單位 (Per-pin Parametric Measurement Unit,PPMU),可直接進行DC參數測試,無須另外購置硬體。

多功能性滿足各種生產或設計環境

此模組能以原速進行生產測試,幫助提高良率,縮短第一顆晶片設計的測試驗證時間,讓半導體製造廠得以在IC設計中加入客製化電路系統,完全無損於並行測試、彈性效能或測試成本效益。




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