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測試與量測 Share print

安捷倫於國際電磁相容技術研討會展示測試解決方案

2012年08月15日

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安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)於8月5-10日在匹茲堡舉辦的IEEE國際電磁相容技術研討會中,展示旗下的測試解決方案。

電磁相容性(EMC)已成為新的電氣和電子產品的關鍵需求,目前全球的政府法規,均要求進行正式的認證測試與實地(in-field)監測。安捷倫廣泛的電磁干擾EMI)測試產品,包含了設計、原型製作、製造與建置所需的測試功能。

安捷倫於研討會中展示下列測試解決方案:

o SystemVue 2012.06:設計師可以使用這個軟體,來建立高速數位晶片對晶片(chip-to-chip)和機架到機架(rack-to-rack)鏈路所需的中通道(mid-channel)中繼器和光鏈路模型,比起使用C語言來進行手動編碼,可省下好幾個月的編程時間。這些模型之後可送交中繼器和光鏈路客戶,好讓他們使用ADS先進設計系統中的暫態/迴旋模擬器,將模型整合到完整的端對端通道模擬。

o Agilent N9038A MXE:這款完全相容的EMI接收器,可以執行CISPR、MIL STD和DO-160量測。內建的診斷工具包括有頻譜分析、光譜圖、長條圖和柱狀圖。將Agilent N6141A EMI量測應用軟體搭配安捷倫X系列信號分析儀使用,可執行傳導放射與輻射放射先期認證測試。

o FieldFox射頻分析儀和FieldFox向量網路分析儀:這些手持式測試儀器以適合野外/現場環境使用和堅固耐用聞名,可執行多種功能,包括天饋線分析、頻譜分析和向量網路分析,內建的QuickCal校驗功能,讓工程師不需將校驗套件帶到野外現場即可校驗網路分析儀。

o 新的Agilent PNA-L向量網路分析儀:這款測試儀器以較低的成本和經得起未來考驗的功能,提供中階VNA中最高的效能。安捷倫將使用PNA-L來展示EMC室的特性描述。

o Agilent E5061B-3L5 ENA LF-RF向量網路分析儀:Agilent E5061B是符合業界標準的ENA系列網路分析儀的一員,可解決電子元件和電路設計師從低頻到高頻的各種量測需求。

安捷倫EEsof EDA高速數位設計產品經理Dr. Colin Warwick,在EMC Symposium Global University Signal Integrity課程系列中的The Power of S-Parameters for High Speed Digital Design主題發表演說,該課程涵蓋S參數模型的運用,並提供可避免突發問題的秘訣和訣竅。




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